*Giới thiệu Thiết bị kiểm tra bằng tia X thực phẩm cho lon, chai, lọ:
Trong khi chế biến thực phẩm đóng hộp, có nguy cơ tiềm ẩn thực phẩm bị nhiễm thủy tinh vỡ, mảnh kim loại và tạp chất từ nguyên liệu thô, gây ra mối đe dọa đáng kể đối với an toàn thực phẩm. Dòng Techik TXR-JĐồ ănHệ thống kiểm tra bằng Tia X được phát triển cho chai, lọ và lon được thiết kế để xác định các vật thể lạ có trong các thùng chứa này. Hệ thống này sử dụng cách bố trí đường dẫn quang học đặc biệt và các thuật toán do AI điều khiển, cho phép hệ thống phát hiện hiệu quả các vật liệu lạ bên trong các thùng chứa có hình dạng bất thường, đáy thùng chứa, miệng vít, vòng kéo lon thiếc và các cạnh được ép.
*Thông số của Thiết bị kiểm tra bằng tia X thực phẩm cho lon, chai và lọ:
Người mẫu | TXR-JDM4-1626 |
Ống tia X | 350W/480W Tùy chọn |
Chiều rộng kiểm tra | 160mm |
Chiều cao kiểm tra | 260mm |
Kiểm tra tốt nhấtĐộ nhạy | Quả bóng thép không gỉΦ0,5mm Dây thép không gỉΦ0,3 * 2 mm Quả bóng gốm/gốmΦ1,5mm |
băng tảiTốc độ | 10-120m/phút |
Vận hành/S | Windows 10 |
Phương pháp bảo vệ | Hầm bảo vệ |
Rò rỉ tia X | < 0,5 μSv/h |
Tỷ lệ IP | IP65 |
Môi trường làm việc | Nhiệt độ: -10~40oC |
Độ ẩm: 30~90%, không có sương | |
Phương pháp làm mát | Điều hòa không khí công nghiệp |
Chế độ từ chối | Bộ từ chối nhấn/Bộ từ chối phím đàn piano (tùy chọn) |
Áp suất không khí | 0,8Mpa |
Nguồn điện | 4,5kW |
Vật liệu chính | SUS304 |
Xử lý bề mặt | Phun cát |
*Ghi chú
Thông số kỹ thuật trên là kết quả của độ nhạy khi chỉ kiểm tra mẫu thử trên dây đai. Độ nhạy thực tế sẽ bị ảnh hưởng tùy theo sản phẩm được kiểm tra.
*Đặc điểm của Thiết bị kiểm tra bằng tia X thực phẩm dành cho lon, chai và lọ:
Cấu trúc ống tia X độc đáo
Thuật toán thông minh
Giải pháp dây chuyền sản xuất thông minh
*Ứng dụng Thiết bị kiểm tra bằng tia X thực phẩm đối với lon, chai và lọ:
Có thể phát hiện toàn diện và chính xác nhiều vật thể lạ trong các loại hộp đựng và vật liệu trám khác nhau.
Khi các vật thể lạ nhỏ xíu chìm xuống đáy, vật thể lạ có thể dễ dàng được phát hiện khi một chùm tia đơn chiếu xiên xuống dưới trong khi khó thể hiện chúng trong ảnh nếu chùm tia kép ở cả hai bên chiếu xiên lên trên.