*Productintroductie van Techik Bulk Product Bulk Food Ray Inspection System:

Het wordt veel gebruikt om product zoals noten, korrels, likdoorns, rozijnen, zonnebloempitten, bonen, bevroren fruit enz. In te inspecteren in pre-packing detectie.
Het kan kleine stenen ontdekken die in het product zijn gemengd
32/64 Air Rojecter -systeem dat een minimale hoeveelheid afval kan garanderen
Het kan 2-6 ton per uur bereiken

*Voordelen vanTechik Bulk Product Bulk Food Ray Inspection System

1. Hoge gevoeligheid en nauwkeurigheid

Hoge gevoeligheid, vooral bij de detectie van organische onzuiverheden en kleine verontreinigingen. De nauwkeurigheid is verbeterd door twee niveaus, wat de oorzaak van de klacht van voedselverontreinigingen van klanten perfect kan oplossen.

2. Laag energieverbruik

Hoge configuratiedetector kan de detectie -precisie en het stroomverbruik van het machinebestrijding verbeteren.

3. Geüpgraded beeldverwerkingsalgoritme

Hoogwaardig beeldverwerkingsalgoritme, de verwerkingssnelheid van de algoritme is dubbel verhoogd, de detectietijd van een enkel product is minder dan 50 ms en de nauwkeurigheid wordt verbeterd met ten minste 1 niveau om een ​​hoge nauwkeurigheid te bereiken.

4. Gemodulariseerd structuurontwerp

Het update -structuurontwerp met modularisatie wordt grote beoordeling gewonnen van Techik -klanten.

Het modulaire structuurontwerp maakt een deel geschikt voor verschillende modellen, die de productie -efficiëntie met 30% - 40% kunnen verbeteren. Het product is sterk geïntegreerd waardoor het onderhoud handiger wordt en de werking- en onderhoudskosten van klanten, zoals transportband en ARM -apparaat, aanzienlijk verlaagt.

5. Hygiënisch ontwerp op hoog niveau

De bulk röntgenfoto is uitgerust met zachte flenzen om te voorkomen dat materialen in de riemspleet vallen, zoals rijst, rode bonen en ander gedetailleerd voedsel, die niet alleen de voedselconsumptie kunnen verminderen, maar ook de problemen van machine-reiniging verminderen, dus zoals om een ​​hoger niveau van sanitair ontwerp te bereiken.

*Parameter