စည်သွတ်ဘူး, ပုလင်း, အစာစားခြင်း,

ဤလိပ်စာကိုဖြေရှင်းရန် Techik သည်စက်များ, ပုလင်းများနှင့်အိုးများအပါအ 0 င်ကွန်တိန်နာအမျိုးမျိုးရှိနိုင်ငံခြားညစ်ညမ်းမှုများကိုရှာဖွေတွေ့ရှိရန်ဒီဇိုင်းပြုလုပ်ထားသောအထူး X-Ray စစ်ဆေးရန်ကိရိယာများကိုကမ်းလှမ်းသည်။

ကြံများ, ပုလင်းများ, ပုလင်းများ, ကွန်တိန်နာအောက်ခြေများ, ကွန်တိန်နာအောက်ခြေများ, အူပည်များ,

Techik ၏မိမိကိုယ်ကိုတီထွင်ထားသော "အသိဉာဏ်ရှိသောစူပါပါ 0 င်သော" AI algorithm နှင့်ပေါင်းစပ်ထားသောထူးခြားသော optical path design ကိုအသုံးပြုခြင်းသည်စနစ်သည်အလွန်တိကျသောစစ်ဆေးရေးစွမ်းဆောင်ရည်ကိုသေချာစေသည်။

ဤအဆင့်မြင့်စနစ်သည်နောက်ဆုံးပေါ်ထုတ်ကုန်တွင်ကျန်ရှိနေသောညစ်ညမ်းမှုအန္တရာယ်ကိုထိရောက်စွာလျှော့ချနိုင်သည့်အပြည့်စုံဆုံးရှာဖွေတွေ့ရှိနိုင်စွမ်းကိုအထောက်အကူပြုသည်။