병, 단지, 캔용 하향 경사형 단일 빔 X선 검사 시스템
*제품 소개:
하향 경사형 단일 빔 X선 검사 시스템은 캔, 주석 및 병의 모든 영역에 있는 물체를 검사하도록 특별히 맞춤화된 소프트웨어를 갖추고 있습니다.
하향 경사형 단일 빔은 캔과 병의 다양한 치수에 따라 검사 범위를 조정할 수 있습니다.
아래쪽으로 기울어진 단일 빔으로 충전 수준 검사가 가능합니다.
아래쪽으로 기울어지면 캔이나 병 바닥에 가라앉는 오염 물질에 대한 성능이 향상됩니다.
*매개변수
| 모델 | TXR-1630SO |
| 엑스레이 튜브 | 최대. 120kV, 480W |
| 최대 감지 폭 | 160mm |
| 최대 감지 높이 | 280mm |
| 최고의 검사능력 | 스테인레스 스틸 볼Φ0.5mm 스테인레스 스틸 와이어Φ0.3*2mm 유리/세라믹 볼Φ1.5mm |
| 컨베이어속도 | 10-60m/분 |
| O/S | 윈도우 7 |
| 보호 방법 | 보호터널 |
| 엑스레이 누출 | < 0.5μSv/h |
| IP 비율 | IP54(표준), IP65(옵션) |
| 근무 환경 | 온도: -10~40℃ |
| 습도:30~90%, 이슬 없음 | |
| 냉각방식 | 산업용 에어컨 |
| 리젝터 모드 | 푸시 거부자 |
| 공기의 압력 | 0.8Mpa |
| 전원공급장치 | 3.5kW |
| 주요재료 | SUS304 |
| 표면 처리 | 거울 광택/샌드 블래스트 |
*메모
위의 기술변수는 즉 벨트의 테스트 샘플만을 검사하여 감도를 측정한 결과입니다. 실제 감도는 검사 대상 제품에 따라 영향을 받습니다.
*포장
*공장견학
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