*제품 소개:

듀얼 빔 X선 검사 시스템에는 캔, 주석 및 병의 모든 영역에 있는 물체를 검사하도록 특별히 맞춤화된 소프트웨어가 포함되어 있습니다.
이중 빔 X선 검사 시스템은 이중 시야각에서 검사를 수행하고 사각지대의 검사 누락을 방지할 수 있습니다.
듀얼 빔 X선 검사 시스템은 불규칙한 조각에 대해 더 나은 검사 비율을 달성할 수 있습니다.
듀얼 빔 X선 검사 시스템에는 지능형 구역 지정 기능이 있어 다양한 영역에 대한 최적의 감도를 보장합니다.

*매개변수

*메모

위의 기술변수는 즉 벨트의 테스트 샘플만을 검사하여 감도를 측정한 결과입니다. 실제 감도는 검사 대상 제품에 따라 영향을 받습니다.