Doub enèji X-ray Sistèm enspeksyon
*Karakteristik nan Techik Doub Enèji X-ray Sistèm enspeksyon:
Idantifikasyon materyèl DEXA: efektivman amelyore pousantaj deteksyon objè etranje yo
Algorithm Entelijan: AI algorithm entelijan endepandan devlope pa Techik ka efektivman amelyore presizyon deteksyon ak diminye pousantaj deteksyon fo
High-nivo konsepsyon ijyenik: fò pousyè ak kapasite ki enpèmeyab, ak adopte pant ak konsepsyon rapid lage.
Solisyon fleksib: Dapre diferan materyèl, eksklizif mòd deteksyon entèlijan ka chwazi.
*Paramètnan Techik Doub Enèji X-Ray Sistèm Enspeksyon:
| Modèl | TXR-2480DE | Txr-4080de |
| X-ray tib | 350W | |
| Lajè enspeksyon | 240mm | 400mm |
| Wotè enspeksyon | 160mm | 160mm |
| Pi bon sansiblite enspeksyon(San pwodwi) | Boul asye purΦ0.3mm Fil asye purΦ0.2*2mm Vè/seramik boulΦ0.8mm | |
| CONVEYOR vitès | 10-90m/min | 10-90m/min |
| Sistèm operasyon | Fenèt | |
| Ekipman pou pouvwa | 1.5kva | |
| Alam | Kalite rejè (rejecter si ou vle) | |
| Nivo pwoteksyon | IP66 (anba senti) | |
| Ajisteman tanperati a | Èkondisyone endistriyèl | |
| X-ray emisyon | <1 μsv/h | |
| Mòd pwoteksyon | Sus plak pwotèj | |
| Materyèl prensipal | Sus304 | |
| Tretman sifas | Glas Polonè/ sab eksplozif | |
*Anbalaj
*Aplikasyon faktori
