* Pasiuna sa Sistema sa Pag-inspeksyon sa Singinit nga Beam X-ray alang sa mga botelya, mga tadyaw ug lata (hilig pataas):

System System nga Sy Samtang moagi ang mga sulud, nahayag sila sa usa ka kontrolado nga X-ray Beam, nga makasulod sa materyal nga packaging. Ang mga X-rays dayon nakit-an sa usa ka sistema sa sensor sa pikas nga bahin sa conveyor belt.

Gisusi sa Sensor System ang nadawat nga datos sa X-ray ug nagmugna sa usa ka detalyado nga imahe sa sulud sa sulud. Ang advanced nga pagproseso sa mga algorithm sa pagproseso gigamit aron mahibal-an ug ipasiugda ang bisan unsang mga abnormalidad o langyaw nga mga butang, sama sa metal, baso, bato, bukog, o dasok nga plastik. Kung ang bisan unsang mga kontaminado nakit-an, ang sistema mahimo'g mag-aghat sa usa ka alarma o awtomatikong isalikway ang sudlanan gikan sa linya sa produksiyon.

Sistema sa Sistema sa Pag-inspeksyon sa Singinit nga Bundo alang sa mga botelya, mga tadyaw ug lata (kiling Makita nila ang dili lamang mga pisikal nga kontaminado apan gisusi usab alang sa husto nga lebel sa pun-on, timbre ang integridad, ug uban pang kalidad nga mga parameter. Kini nga mga sistema kaylap nga gigamit sa industriya sa pagkaon ug ilimnon aron matubag ang mga kinahanglanon sa regulasyon ug pagpadayon sa pagsalig sa konsyumer sa mga produkto nga ilang gipalit.

* Parameter saSystem System nga Sy

* Pahinumdom

Ang teknikal nga parameter sa ibabaw mao ang sangputanan sa pagkasensitibo pinaagi sa pag-inspeksyon lamang sa pagsulay sa pagsulay sa bakus. Ang tinuud nga pagkasensitibo maapektuhan sumala sa mga produkto nga gi-inspeksyon.