* Dubbel-straal X-straal inspeksie stelsel Inleiding:

Dubbelstraal X-straal-inspeksiestelselis met sagteware wat spesifiek aangepas is om voorwerpe in alle streke van te inspekteerblikkies, blikkies en bottels.
Dubbelstraal X-straal-inspeksiestelselkan inspeksie in dubbele visuele hoeke bereik en ontbrekende inspeksie van blinde area vermy.
Dubbelstraal X-straal-inspeksiestelselkan 'n beter inspeksieverhouding vir onreëlmatige fragmente bereik
Dubbelstraal X-straal-inspeksiestelselhet intelligente sonering om optimale sensitiwiteit vir verskillende gebiede te verseker.

*Parameter van Dual-beam X-straal inspeksie stelsel

*Let wel

Die tegniese parameter hierbo is naamlik die resultaat van sensitiwiteit deur slegs die toetsmonster op die band te inspekteer. Die werklike sensitiwiteit sal beïnvloed word volgens die produkte wat geïnspekteer word.